ข้อมูลTesting of individual semiconductor devices (testing or measuring during manufacture or treatment H01L0021660000; testing of photovoltaic devices H02S0050100000)


เวอร์ชั่นข้อมูล

เวอร์ชั่น รหัส / code คำอธิบาย / code name เครื่องมือ
1 G01R0031260000 Testing of individual semiconductor devices (testing or measuring during manufacture or treatment H01L0021660000; testing of photovoltaic devices H02S0050100000) 29/09/2562